GB 11114-1989 人造石英晶体位错X射线形貌检测方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 06:13:04 浏览:9096
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基本信息
| 标准名称： | 人造石英晶体位错X射线形貌检测方法 |
| 英文名称： | Method for detecting dislocations of synthetic quartz crystal using X-ray topographic technique |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料 |
| ICS分类： | |
| 发布部门： | 中华人民共和国机械电子工业部 |
| 发布日期： | 1989-03-22 |
| 实施日期： | 1990-03-01 |
| 首发日期： | 1989-03-31 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国科学院物理研究所和机械电子工业部电子标准化研究所 |
| 起草人： | 麦振洪、葛培文、刘承钧、张和贞、储希 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1990-03-03 |
| 页数： | 5页 |
适用范围
本标准规定了观测人造石英晶体的位错、划痕、层错、孪晶、沉淀物和生长条纹等缺陷和估算其位错密度的X射线衍射形貌方法。本标准适用于人造石英晶体及天然石英晶体位错密度等缺陷的检测。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料
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